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    老化系统

    规格： HiBIS
    储存条件：
    产品说明： 光通讯测试
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    咨询电话：13818411803

    产品详情

    PRODUCT FEATURES

       The Easy-Think Instrument Hi-BIS is designed for Chip, Bar, Die, and CoC burn-in and life test. 

    · Independent temperature control for each individual drawer.

    · Well designed thermal contaction.

    · Excellent electrical stress protection network.

    · Flexible fixture configurations for different product usage

    · Compact and easy to use

    APPLICATIONS

    · Laser burn-in & life test

    · LED burn-in & life test

    Specification

    老化系统1.jpg


    HiBIS 产品资料（点击下载）

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